國立成功大學製造資訊與系統研究所講座教授鄭芳田和團隊成員楊浩青、丁顥、及洪敏雄，日前以「工具機之加工品質的預測方法」榮獲107年經濟部智慧財產局「國家發明創作獎」之發明獎銀牌。這是鄭芳田教授和其研究團隊第三度榮獲「國家發明創作獎」之獎項，也是成大校內首位三度拿下「國家發明創作獎」的教授。

　　鄭教授和其研究團隊曾在民國100年以「雙階段虛擬量測方法」獲得發明獎銀牌、民國101年以「全自動化型虛擬量測的伺服器與系統及方法（Automatic Virtual Metrology，AVM）」拿下發明獎金牌，雖然三度獲獎的研究主題不盡相同，但都是以「虛擬量測」為核心主軸進行延伸以便能應用於各種不同的生產環境和適用於各式產業，並以延伸議題獲獎，在在顯示鄭教授和其研究團隊在「虛擬量測」領域之關鍵技術的掌握度和在不同產業的應用面，均有其優越性且備受肯定。與AVM相關的技術，已陸續榮獲中華民國、美國、日本、德國、韓國、和中國等專利。

　　鄭芳田教授指出，十幾年前他因緣際會得知半導體產業提出虛擬量測之技術需求，從此他就一心投入全自動虛擬量測(AVM)系統的開發。所謂虛擬量測是指在產品尚未或無法進行實際量測的情況之下，利用生產機台參數推估其所生產的產品品質，進行線上且即時的預測，以便能達到所有生產產品都能被全檢的效果，也可同時對於機台效能進行監控，如此就可即時發現異常，避免發生重大損失。

　　經過十多年產學合作的雕琢，AVM系統已經非常成熟，除了應用在一開始提出需求的半導體產業之外，包括面板、航太、碳纖、鋁輪圈、與吹瓶機等產業，處處可見AVM系統對於各式產業的應用與助益。

　　2018年初，鄭芳田教授在成大成立智慧製造研究中心(iMRC)，研發成功一個智慧製造雲端服務：「先進製造物聯雲(AMCoT)」系統平台。本AMCoT平台擁有可完成智慧製造(工業4.0)所需之大數據資料收集和進行邊緣運算的關鍵物聯網元件(CPA)、可完成所有產品全檢以確保品質零缺陷的全自動虛擬量測（AVM）、可預測機台剩餘壽命以避免無預警當機的智慧型預測保養（IPM）、與可快速找出造成影響良率之原因並持續改善的智慧型良率管理（IYM）等等智慧化服務。運用此AMCoT智慧製造雲端服務平台，將可超越工業4.0，協助國內各式製造業達到所有產品接近零缺陷的目標，進而實現工業4.1的願景。

成大製造資訊與系統研究所講座教授鄭芳田。

成大製造資訊與系統研究所講座教授鄭芳田成立兩所中心──「智慧製造研究中心」與「E化製造研究中心」。

成大製造資訊與系統研究所講座教授鄭芳田研發「先進製造物聯雲（AMCoT）」系統平台。